DINO Agência de Notícias CorporativasTÓQUIO 8/11/2021 –
– Fácil adquirir dados para todos os tipos de amostras –
JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(Presidente e diretor de Operações Izumi Oi) anuncia o desenvolvimento e lançamento de um novo microscópio de varredura (Scanning Electron Microscope, SEM), série JSM-IT510 em novembro de 2021.
Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20211108005652/pt/
JSM-IT510 (LA) (Photo: Business Wire)
Histórico do desenvolvimento do produto
Os microscópios de varredura de elétrons são utilizados em uma grande variedade de áreas, entre elas, nanotecnologia, metais, semicondutores, cerâmica, medicina e biologia. Além disso, as aplicações SEM estão sendo ampliadas, não apenas para pesquisa básica, mas também para o controle de qualidade em fábricas. Com isso, demandas para aquisição de dados de forma mais rápida e mais fácil de imagens SEM e resultados de análise, tais como Espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS) estão aumentando.
Para atender essas necessidades e aumentar produtividade, desenvolvemos a série JSM-IT510, que desenvolve ainda mais a operabilidade do nosso popular InTouchScope™. Com a nova função Simple SEM, agora você pode “deixar” sua rotina diária (operação repetitiva) para o instrumento.
Principais recursos
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Nova função “Simple SEM”
A função Simple SEM permite que o usuário selecione as condições de aquisição e campo de visão para a imagem SEM, e em seguida, a imagem SEM é automaticamente adquirida. O trabalho de rotina pode ser mais eficaz. -
Novo “Detector de Elétrons Secundários de Baixo Vácuo (Low-vacuum Hybrid Secondary Electron Detector, LHSED)”
Esse novo detector coleta sinais de elétron e fóton fornecendo uma imagem com alto S/N e informação topográfica aprimorada mesmo sob um vácuo baixo. -
Integração de microscópio eletrônico de varredura (SEM) e do Sistema de espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS).
A integração de SEM e do EDS tem sido desenvolvida ainda mais, e a função Live Map permite exibição ao vivo de mapa elementar do campo de observação da visão. -
Nova função “Live 3D”
Imagens 3D podem ser construídas no local enquanto a observação SEM está sendo desempenhada para obter informações de irregularidade e de profundidade. -
Função Live Analysis
O sistema EDS integrado exibe um espectro EDS em tempo real durante a observação da imagem, para uma análise elementar eficiente. -
Nova função do sistema de Navegação por Etapas LS
O novo sistema de Navegação por Etapas LS pode adquirir uma imagem óptica de uma área quatro vezes maior do que os modelos convencionais (200 mm x 200 mm). Essa função permite que o usuário adquira uma imagem óptica da amostra de observação e mova para o campo de observação desejado simplesmente clicando na imagem óptica. -
Zeromag
Com a nossa função Zeromag, a navegação nas amostras é ainda mais fácil do que nunca. Você pode localizar áreas para imagens ou especificar posições de análise sob múltiplos campos usando uma imagem óptica ou gráfico do portador. -
Exibição da profundidade característica da geração de x-ray
Isso valida um rápido entendimento da profundidade da análise (referência) para a amostra. -
SMILE VIEW™ Lab, que possibilita o gerenciamento integrado de dados de imagem e análise.
Facilita a geração de relatórios para todos os dados, desde imagens SEM coletadas até resultados de análises elementares.
Meta de vendas
200 unidades/ano
URL do produto: https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT510.html
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão
Izumi Oi, presidente e diretor de Operações (COO)
(Código de ações: 6951, primeira seção da Bolsa de Valores de Tóquio)
www.jeol.com
A versão oficial e autorizada do comunicado é a emitida na língua original do mesmo. A tradução é apenas uma ajuda, devendo a mesma ser conferida com o texto na sua língua original, que é a única versão com validade legal.
Ver a versão original em businesswire.com: https://www.businesswire.com/news/home/20211108005652/pt/
Contato:
JEOL Ltd.
Divisão de vendas de instrumentos de ciência e medição
Hironori TASAKA
TEL.: +81-3-6262-3567
E-mail: htasaka@jeol.co.jp
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html
Fonte: BUSINESS WIRE
