JEOL lança o sistema“JIB-PS500i” de FIB-SEM com alta precisão e alta resolução

A JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (presidente e CEO, Izumi Oi) anunciou o lançamento do sistema “JIB-PS500i” de FIB-SEM em 1º de fevereiro de 2023.

Este comunicado de imprensa inclui multimédia. Veja o comunicado completo aqui: https://www.businesswire.com/news/home/20230123005847/pt/

FIB-SEM System “PS500i” (Photo: Business Wire)

Com a estrutura mais fina dos materiais avançados e a complexidade cada vez maior dos processos, as técnicas de avaliação, como a observação morfológica e a análise elementar, exigem maior resolução e precisão. Na preparação de amostras para microscópios eletrônicos de transmissão (TEM) na indústria de semicondutores, bem como nas áreas de baterias e materiais, são necessárias “maior precisão” e “amostras mais finas”.

Este produto é um sistema combinado do sistema FIB (Feixe de íon focalizado) que pode processar com alta precisão e o SEM (Microscópio eletrônico de varredura) de alta resolução para atender a essas necessidades.

Principais características

1. A coluna FIB permite o processamento com um feixe de íons Ga de alta corrente de até 100 nA. O processamento de alta corrente é particularmente eficaz na preparação de amostras de seção transversal para imagens e análises de grandes áreas. Além disso, a coluna FIB pode ser ajustada para uma distância de trabalho mais curta. Juntamente com uma fonte de alimentação recém-desenvolvida, provocou um desempenho de processamento muito melhorado em uma baixa tensão de aceleração.
2. Um sistema de lentes supercônicas recém-desenvolvido é incorporadoàcoluna SEM, melhorando consideravelmente a resolução da imagem em uma baixa tensão de aceleração. Esta excelente imagem é muito útil para verificar o status de fresagem do ponto final da amostra de lamela usando o SEM.
3. O JIB-PS500i adota uma grande câmara de amostra e uma plataforma de amostra recém-desenvolvida, aumentando a amplitude de movimento da plataforma – sendo capaz, assim, de acomodar uma amostra grande.
   
   Além disso, um detector STEM recém-desenvolvido que pode ser usado com a inclinação da plataforma em 90 graus permite uma transição perfeita da preparação de amostras TEM para a observação STEM.
4. Na GUI operacional, é empregado o “SEM center”, que foi bem recebido na série JSM-IT800 de microscópios eletrônicos de varredura de alta resolução, permitindo a integração total da análise EDS.
5. Um cartucho de inclinação dupla e um suporte TEM específico permitem um alinhamento mais preciso, ao mesmo tempo em que facilitam a transferência de amostra entre TEM e FIB.

Meta de vendas

50 unidades/ano

Site do produto: https://www.jeol.com/products/scientific/fib/JIB-PS500i.php

JEOL Ltd.

3-1-2, Musashino, Akishima, Tóquio, 196-8558, Japão

Izumi Oi, presidente e CEO

(código das ações: 6951, Mercado principal da Bolsa de Valores de Tóquio)

www.jeol.com

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Contato:

JEOL Ltd.

Divisão de Vendas de Instrumentos Científicos e de Medição

Tel.: +81-3-6262-3567

https://www.jeol.com/contacts/products.php

Fonte: BUSINESS WIRE